產(chǎn)品名稱:慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)HAST-S
產(chǎn)品型號(hào):
更新時(shí)間:2024-08-19
產(chǎn)品簡介:
專業(yè)為用戶提供慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)HAST-S儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
專業(yè)儀器設(shè)備與測(cè)試方案供應(yīng)商——上海堅(jiān)融實(shí)業(yè)有限公司JETYOO INDUSTRIAL & 堅(jiān)友(上海)測(cè)量儀器有限公司JETYOO INSTRUMENTS,由原安捷倫Agilent技術(shù)工程師——堅(jiān)JET和泰克Tektronix用戶工程師——融YOO于2011年共同創(chuàng)立,志在破舊立新!*測(cè)試測(cè)量行業(yè)代理經(jīng)銷商只專業(yè)做商務(wù)銷售,不專業(yè)做售前測(cè)試方案,不專業(yè)做售后使用培訓(xùn)的空白。我們的技術(shù)銷售工程師均為本科以上學(xué)歷,且均有10年以上儀器行業(yè)工作經(jīng)驗(yàn),專業(yè)為中國區(qū)用戶提供儀器設(shè)備、測(cè)試方案、技術(shù)培訓(xùn)、維修服務(wù),為上海華東地區(qū)一家以技術(shù)為導(dǎo)向的儀器設(shè)備綜合服務(wù)商。
慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)HAST-S(Highly Accelerated Stress Tester)
加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。
注意事項(xiàng):USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))
智能型排氣設(shè)計(jì)(鍋爐內(nèi)空氣抽出)提高壓力穩(wěn)定性、再現(xiàn)性
長時(shí)間實(shí)驗(yàn)機(jī)臺(tái)運(yùn)轉(zhuǎn)400小時(shí)超長效實(shí)驗(yàn)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)間
內(nèi)建USB2.0&磁盤驅(qū)動(dòng)器數(shù)字記錄器儲(chǔ)存接口創(chuàng)新USB2.0儲(chǔ)存接口
箱體耐壓力(140℃)2.65kg,符合水壓測(cè)試6kg tank耐壓設(shè)計(jì)
二段式壓力安全保護(hù)裝置采兩段式結(jié)合控制器與機(jī)械式壓力保護(hù)裝置
安全保護(hù)排壓鈕緊急安全裝置二段式自動(dòng)排壓鈕
直立式全彩觸控控制系統(tǒng)
控制系統(tǒng)通過EMC(電磁兼容性)驗(yàn)證
直立式全彩液晶TFT,簡/繁/英文顯示器
0. 01℃ / 0.1% RH精確解析能力
9999 HOURS / STEP 每段可控制時(shí)間
150 program x 100 step 程序記憶容量
USB2.0儲(chǔ)存接口與曲線記錄
12 bit D/A 溫度濕度轉(zhuǎn)換接口
全自動(dòng)控制與安全保護(hù)協(xié)調(diào)系統(tǒng)
High power LED運(yùn)轉(zhuǎn)狀態(tài)指示燈
溫度范圍105℃~132℃
濕度范圍:75%~100% / 105 ℃~132 ℃
慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)HAST-S規(guī) 格(SPECIFICATION)
內(nèi)箱尺寸(Inside dimensions (W.D.H) cm) φ22 X 33(L) (cm)
外箱尺寸(Outside dimensions (W.D.H) cm) 65 X 90 X 63 (W*D*H)
內(nèi)容積(Inside capacity) / 公升(Liter) 12L
內(nèi)箱材料(Internal material) 不銹鋼#316
外箱材料(External material) SECC
溫度范圍(Temperature range) 105℃~132℃
濕度范圍(Humidity Range)75%~100% / 105 ℃~132 ℃
溫度分布均勻度(Temperature uniformity ℃) ±1.0 ℃
濕度分布均勻度(Humidity uniformity %RH) ±5 %
溫度穩(wěn)定度(Temperature stability ℃) ± 0.3 ℃
主要裝置(MAJOR DEVICE)
結(jié)構(gòu) (Structure) 標(biāo)準(zhǔn)壓力容器
加濕系統(tǒng)(Humidification system) 電熱管
加濕給水系統(tǒng)(Humidification water supply) 手動(dòng)加水
控 制 器(Controller) IPC Baces Touch Panel
鏈接庫編輯 150組程序
電壓(V) 220V~240V 50/60Hz單相
高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)(Highly Accelerated Stress Tester-HAST)
加速壽命試驗(yàn)的目的是提高環(huán)境應(yīng)力(如:溫度)與工作應(yīng)力(施加給產(chǎn)品的電壓、負(fù)荷.等),加快試驗(yàn)過程,縮短產(chǎn)品或系統(tǒng)的壽命試驗(yàn)時(shí)間。
用于調(diào)查分析何時(shí)出現(xiàn)電子元器件,和機(jī)械零件的摩耗和使用壽命的問題,使用壽命的故障分布函數(shù)呈什么樣的形狀,以及分析失效率上升的原因所進(jìn)行的試驗(yàn)。
隨著半導(dǎo)體可靠性的提高,目前大多半導(dǎo)體器件能承受長期的THB試驗(yàn)而不會(huì)產(chǎn)生失效,因此用來確定成品質(zhì)量的測(cè)試時(shí)間也相應(yīng)增加了許多。為了提高試驗(yàn)效率、減少試驗(yàn)時(shí)間,采用了新的壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法。壓力蒸煮鍋試驗(yàn)方法主要分成兩種類型:即PCT和USPCT(HAST) 現(xiàn)在壓力蒸煮鍋試驗(yàn)作為濕熱加速試驗(yàn)被IEC(電工委員會(huì))所標(biāo)準(zhǔn)化。
注意事項(xiàng):USPCT現(xiàn)在稱為HAST(高度加速應(yīng)力試驗(yàn))
中華鍋爐協(xié)會(huì)壓力容器安全檢查合格
圓形橫置式內(nèi)槽結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)方便使用者取置待測(cè)品
馬達(dá)驅(qū)動(dòng)磁性風(fēng)扇機(jī)構(gòu)循環(huán)(溫度 / 濕度分布均勻佳)
安全程序自動(dòng)停機(jī),自動(dòng)泄壓,自動(dòng)破真空,自動(dòng)給水
HAST設(shè)備本體材質(zhì)SUS#316,外部包裝材質(zhì)SUS#304
圓型測(cè)試槽與安全門環(huán)扣結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)
電磁風(fēng)扇馬達(dá)循環(huán)裝置濕度分布均勻
本體與主要進(jìn)水管件SUS#316 材質(zhì)
時(shí)序插座與BIOS 純銀導(dǎo)線20 PIN
飽和或不飽和可程控模式
溫度 / 濕度 / 濕球 / 溫度 / 壓力 / 電壓顯示
相容于CM BUS遠(yuǎn)程監(jiān)控管理系統(tǒng)
慶聲KSON高度加速壽命試驗(yàn)機(jī)KHS-A
Internal Dimension*L cm 40*40(50L)
External Dimension W*D*H cm 115*115*167
Circulated Method Magnet drive circulating fan system
(Temp./Hemidity superior uniformity)
Temperature Range 105℃﹏143℃
Humidity Range 75%~100%/105℃~143℃
Heating Time Rt~130℃ 85%(100 min)
Temperature Uniformity ± 1.0℃